半导体分立器件综合图示仪

系统概述

西安易恩电气 EN-2005C是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统，本系统可自动生成功率器件的I-V曲线，也可根据客户的实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统在失效分析，IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立，保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来，数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究，是一款高效多功能的高端半导体测试设备。

本系统使用方便，只需要通过USB或者RS232与电脑连接，通过电脑中友好的人机界面操作，即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL和WORD的格式保存。系统提供过电保护功能，门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。对诊断设备状态和测试结果提供了可靠地保证。

系统软件支持

器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为Windows或WindowsNT的PC机上USB接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成，具有全屏显示和增强型编辑帮助。

一种填空式编程方法向用户提供简明、直观的使用环境。操作人员只需在提示下，输入所选器件系列名称和测试类型，并选择所需测试的参数，而不必具有专业计算机编程语言知识。完成一个器件的测试程序编制只需几分钟的时间，非常快捷方便。

概述

EN-2005C测试系统通过PC机对其内部功率源、测试施加条件、测试具体线路进行控制，达到对器件进行测试的目的。在一定的测试条件下，这些源与条件负载按照条件准确的连接，其中包含了大量的负载、转换功率源和所要求的外部测试线路。

测试系统特点

IV曲线显示/局部放大，程序保护电流/电压,以防损坏，品种繁多的曲线，可编程的数据点对应，增加线性或对数，可编程延迟时间可减少器件发热，保存和重新导入入口程序，保存和导入之前捕获图象，曲线数据直接导入到EXCEL，曲线程序和数据自动存入EXCEL，程序保护电流/电压,以防损坏，测试范围广（19总大类，27分类）

系统规格及技术指标                                                          

主极电压：     1mV-2000V

电压分辨率：   1mV

主极电流：     0.1nA-50A

扩展电流：     100A

电流分辨率：   0.1nA

测试精度：     0.2%+2LSB

测试速度：     0.5mS/参数

工作温度：     25℃--40℃

工作湿度：     45%--80%

贮存湿度：     10%--90%

工作电压：     200v--240v

电源频率：     47HZ--63HZ

通信接口：     RS232 USB

系统功耗：     <150w

设备尺寸：     450mm×570mm×280mm

质    量：     35KG

测试范围

二极管DIODE，晶体管（NPN型/PNP型），J型场效应管J-FET，MOS场效应管  MOS-FET双向可控硅TRIAC，可控硅SCR，绝缘栅双极大功率晶体管IGBT，硅触发可控硅STS

达林顿阵列DARLINTON，光电耦合OPTO-COUPLER，稳压、齐纳二极管ZENER三端稳压器REGULATOR，光电开关OPTO-SWITCH，光电逻辑OPTO-LOGIC，金属氧化物压变电阻MOV，固态过压保护器SSOVP，压变电阻VARISTOR，双向触发二极管DIAC